中测光科

      中测光科低相干干涉仪（镜面定位/测厚仪）包含MS系列和JM系列两个产品线，采用低相干干涉测量原理，用于高精度测量光学镜头组中各镜片间的空气间隔和每一片镜片的中心厚度。可实现平片、球面镜、镜头组的间隔及厚度测量，并可根据用户需求灵活定制量程及工装夹具。

       基于1310nm低相干光源的短相干长度特性，仪器能自动识别镜片多个表面各自的反射峰，独立给出每片镜片的厚度或空气间隔——避免了传统接触式测量的接触力误差和对光学表面的损伤风险，是光学系统在装配阶段检测和控制空气间隔的理想工具。