
普通激光的相干长度很长(可达数米),意味着光程差很大时仍能产生干涉——这正是干涉仪测面形的基础。但长相干长度也带来一个问题:所有表面反射的光都会相互干涉,难以区分每个表面的单独贡献。
低相干光源(如1310nm近红外超辐射发光二极管SLD)的相干长度极短(通常只有几十微米),这意味着:
只有光程差在相干长度以内(几十微米)的光才能产生干涉
低相干干涉测厚的核心机制:
低相干光照射镜片组,光在每个表面(前表面、后表面、每个空气间隔)都会部分反射
反射光与参考光在干涉仪中汇合
扫描参考臂长度(或扫描光源),当参考臂光程与某个表面的反射光程差匹配(在相干长度内)时,该表面产生干涉峰
每个干涉峰的位置对应一个表面的位置,峰与峰之间的距离就是镜片厚度或空气间隔
由于相干长度极短,每个表面产生一个独立的、清晰的干涉峰,互不干扰——这就是能同时测多个表面的关键。
1310nm近红外光可以穿透普通光学玻璃(玻璃在近红外波段透过率高),从而测量镜片组内部的表面。如果用可见光,部分镀膜镜片会阻挡测量。
1310nm光源可以设计为Class 1激光等级(人眼安全),在产线环境中无需特殊防护,这是低相干干涉测厚仪实用性的重要保障。
完全非接触,不损伤任何表面(包括软性膜层、胶合面)。对于高价值、易损伤的光学元件,这是决定性的优势。
一次扫描同时测出所有表面的位置、所有镜片厚度和所有空气间隔——这是传统接触式测厚无法实现的能力。
| 能力 | 接触式测厚 | 低相干干涉测厚 |
|---|---|---|
| 单镜片中心厚度 | ✓ | ✓ |
| 镜片组内各镜片厚度 | ✗(需拆开) | ✓(穿透测量) |
| 空气间隔 | ✗ | ✓(核心优势) |
| 非接触 | ✗ | ✓ |
中测MS/JM系列低相干干涉测厚仪的测量精度可达±0.5μm,重复精度±0.25μm,满足精密镜片和镜片组的检测需求。
检测装配好的镜头组中每一片镜片的厚度和空气间隔,验证装配是否符合设计公差,无需拆解。
对单片镜片(平面、球面)进行非接触的中心厚度测量,适合精密镜片的全检。
在胶合前测量镜片位置和间隔,确保胶合精度。
测量多层滤光片、光学晶体的厚度和间隔。
根据被测镜片组的最大光程选择量程:
中小镜头组(手机、安防)→ 300mm量程
中大型镜头组(相机、投影)→ 600mm量程
大尺寸镜组(天文、望远)→ 800mm量程
是否需要测球面镜(需要相应的工装夹具)
是否需要温度补偿(选配温/气压传感器)
是否需要光轴调整工具(精密对中需求)
低相干干涉测厚技术利用"短相干长度"的物理特性,实现了对镜片组内部所有表面的非接触、无损、多表面同步测量——这是光学测厚领域的一次重要进步。它让"不拆开就能测出镜头组内部每一片镜片的厚度和间隔"成为可能,是精密光学装配和质量控制的重要工具。中测光科MS/JM系列低相干干涉测厚仪,以±0.5μm的精度和300/600/800mm的量程覆盖,为光学镜片和镜片组的厚度与间隔测量提供完整的解决方案。
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