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低相干干涉测厚技术:镜面间隔与中心厚度的非接触测量

低相干干涉测厚技术:镜面间隔与中心厚度的非接触测量

2026-08-28 15:49 中测光科
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一个已经装配好的手机镜头组,里面有6片镜片——如何在不拆开的情况下,测出每一片镜片的厚度和片与片之间的空气间隔?传统接触式测厚仪只能测外露的表面,拆开测量又会破坏装配精度。低相干干涉测厚技术解决了这个难题:一束低相干近红外光穿过整个镜片组,分别探测每一片镜片前后表面的反射信号,一次扫描就得到所有表面的位置、所有镜片的厚度和所有空气间隔。这是光学装配领域最"聪明"的测厚方式。本文从低相干干涉的原理、技术优势和典型应用三个维度,系统介绍低相干干涉测厚技术。


一、低相干干涉的原理——"短相干长度"的妙用

1.1 相干长度的概念

普通激光的相干长度很长(可达数米),意味着光程差很大时仍能产生干涉——这正是干涉仪测面形的基础。但长相干长度也带来一个问题:所有表面反射的光都会相互干涉,难以区分每个表面的单独贡献。

低相干光源(如1310nm近红外超辐射发光二极管SLD)的相干长度极短(通常只有几十微米),这意味着:

只有光程差在相干长度以内(几十微米)的光才能产生干涉

1.2 测厚的核心机制——定位每个表面

低相干干涉测厚的核心机制:

  1. 低相干光照射镜片组,光在每个表面(前表面、后表面、每个空气间隔)都会部分反射

  2. 反射光与参考光在干涉仪中汇合

  3. 扫描参考臂长度(或扫描光源),当参考臂光程与某个表面的反射光程差匹配(在相干长度内)时,该表面产生干涉峰

  4. 每个干涉峰的位置对应一个表面的位置,峰与峰之间的距离就是镜片厚度或空气间隔

由于相干长度极短,每个表面产生一个独立的、清晰的干涉峰,互不干扰——这就是能同时测多个表面的关键。

二、为什么用1310nm近红外?

2.1 穿透光学玻璃

1310nm近红外光可以穿透普通光学玻璃(玻璃在近红外波段透过率高),从而测量镜片组内部的表面。如果用可见光,部分镀膜镜片会阻挡测量。

2.2 人眼安全

1310nm光源可以设计为Class 1激光等级(人眼安全),在产线环境中无需特殊防护,这是低相干干涉测厚仪实用性的重要保障。

三、低相干干涉测厚的核心优势

3.1 非接触、无损测量

完全非接触,不损伤任何表面(包括软性膜层、胶合面)。对于高价值、易损伤的光学元件,这是决定性的优势。

3.2 多表面同步测量

一次扫描同时测出所有表面的位置、所有镜片厚度和所有空气间隔——这是传统接触式测厚无法实现的能力。

能力接触式测厚低相干干涉测厚
单镜片中心厚度✓✓
镜片组内各镜片厚度✗(需拆开)✓(穿透测量)
空气间隔✗✓(核心优势)
非接触✗✓

3.3 高精度

中测MS/JM系列低相干干涉测厚仪的测量精度可达±0.5μm,重复精度±0.25μm,满足精密镜片和镜片组的检测需求。

四、典型应用场景

4.1 手机/相机镜头组的装配检测

检测装配好的镜头组中每一片镜片的厚度和空气间隔,验证装配是否符合设计公差,无需拆解。

4.2 单镜片中心厚度快速测量

对单片镜片(平面、球面)进行非接触的中心厚度测量,适合精密镜片的全检。

4.3 光学组件胶合前定位

在胶合前测量镜片位置和间隔,确保胶合精度。

4.4 滤光片组/多层光学件的间隔检测

测量多层滤光片、光学晶体的厚度和间隔。

五、选型考量

5.1 量程选择

根据被测镜片组的最大光程选择量程:

  • 中小镜头组(手机、安防)→ 300mm量程

  • 中大型镜头组(相机、投影)→ 600mm量程

  • 大尺寸镜组(天文、望远)→ 800mm量程

5.2 其他考量

  • 是否需要测球面镜(需要相应的工装夹具)

  • 是否需要温度补偿(选配温/气压传感器)

  • 是否需要光轴调整工具(精密对中需求)

六、结语

低相干干涉测厚技术利用"短相干长度"的物理特性,实现了对镜片组内部所有表面的非接触、无损、多表面同步测量——这是光学测厚领域的一次重要进步。它让"不拆开就能测出镜头组内部每一片镜片的厚度和间隔"成为可能,是精密光学装配和质量控制的重要工具。中测光科MS/JM系列低相干干涉测厚仪,以±0.5μm的精度和300/600/800mm的量程覆盖,为光学镜片和镜片组的厚度与间隔测量提供完整的解决方案。


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