一、技术背景与核心原理
在第三代半导体材料的产业化进程中,碳化硅(SiC)凭借其卓越的物理化学性能,成为支撑新能源汽车、可再生能源等战略新兴产业的核心材料。然而,作为莫氏硬度达9.5级的超硬材料,碳化硅晶圆的精密加工面临严峻挑战——传统机械切割工艺易导致边缘崩裂、内部微裂纹等缺陷,在制备100μm以下超薄晶圆时,成品率难以突破70%。在此背景下,隐形切割技术(StealthDicing)应运而生,成为破解碳化硅加工难题的关键技术。
该技术的核心原理基于激光与材料的交互作用:采用波长1064nm的红外激光,利用其在碳化硅材料中的光学穿透特性,将能量聚焦于晶圆内部特定深度(5-50μm)。通过多光子吸收效应,激光能量促使材料原子键断裂,在亚微米尺度形成连续的微损伤层,构建预设切割路径。后续裂片工序中,通过机械应力加载或超声波振动,晶圆沿微损伤层实现无应力分离,从根本上规避了传统切割工艺对材料表面的直接机械损伤。部分前沿工艺还融合激光开槽与化学蚀刻技术,通过表面预处理优化内部损伤层的形成效率。
二、技术优势的系统性解析
(一)损伤控制与良率提升
隐形切割技术将切割损伤层深度控制在5-10μm,较传统机械切割的50-100μm损伤深度降低一个数量级,显著减少裂片过程中的应力集中现象。行业实测数据显示,在8英寸碳化硅晶圆切割中,该技术可将裂片良率从65%提升至80%以上,单晶圆芯片产出量平均增加12%。
(二)精密加工能力突破
得益于激光聚焦光斑的微米级控制(最小可达10μm),该技术可实现50μm以下窄间距芯片的切割,满足高密度功率模块的集成需求。在5G基站用GaN-on-SiC射频器件加工中,边缘寄生电容较传统工艺降低15%,有效提升器件高频性能。
(三)高效生产适配性
通过优化激光扫描策略(如螺旋扫描、并行光束技术),单晶圆切割时间可压缩至15分钟以内,较传统砂轮切割的30分钟耗时提升一倍效率。配合全自动晶圆传输系统,可实现24小时不间断加工,单设备年产能达50万片以上。
(四)超薄晶圆加工适应性
针对50-100μm厚度的碳化硅晶圆,隐形切割技术通过非接触式能量输入,避免了机械切割中因晶圆翘曲引发的切割偏移问题。在100μm晶圆加工中,切割位置精度可达±5μm,满足车规级功率器件的严苛要求。
三、技术瓶颈与创新突破路径
(一)激光能量耦合效率优化
由于碳化硅对红外光的吸收率仅3%-5%,能量利用率不足导致加工效率受限。行业通过引入皮秒/飞秒超快激光,将脉冲宽度缩短至皮秒级(<10ps),热影响区从微米级缩减至纳米级,同时配合表面镀制增透膜(如SiO₂薄膜,吸收率提升至12%),实现能量利用率的双重提升。
(二)裂片工艺协同优化
针对微损伤层与裂片应力的匹配难题,采用有限元仿真技术(如ANSYS建模)预计算晶圆内部应力分布,精准控制激光扫描密度(50-200点/mm)与损伤层深度。新兴的激光诱导应力裂片技术,通过在切割道两侧加载脉冲激光热应力,实现无接触式裂片,裂片位置偏差可控制在±2μm以内。
(三)装备产业化瓶颈突破
针对进口设备单台成本超200万美元的现状,在激光能量耦合与热效应控制领域,国内企业通过设备研发实现关键突破。以中测光科(福建)技术有限公司自主研发的晶圆划片机MS-SDM-1为例,该设备通过集成化光学设计,创新性支持纳秒、皮秒、飞秒多类型激光器适配,可根据碳化硅材料特性切换最优脉冲宽度。针对纳秒激光在碳化硅切割中因电子-声子耦合时间失配(纳秒级脉冲vs皮秒级耦合)导致的热损伤问题,采用皮秒激光(脉冲宽度<10ps)时,热影响区可从微米级压缩至纳米级,残余应力降低60%以上。设备搭载的压电陶瓷动态聚焦系统(行程100μm,分辨率10nm)与双路CCD视觉定位技术(旁轴视野8*7mm,分辨率10μm),可实现激光焦点在晶圆内部±1.3mm范围内的实时跟踪补偿,确保切割道位置精度控制在±2.5μm以内,显著提升微损伤层的加工一致性。
MS-SDM-1晶圆划片机支持2-6英寸碳化硅、蓝宝石、GaAs等第三代半导体材料加工,其8轴运动控制系统(6直线+2旋转轴)可实现复杂切割路径编程,X/Y轴定位精度达±2.5μm,重复精度±1μm,适配车规级功率器件对精密加工的严苛需求。典型应用场景中,采用该设备对100μm厚碳化硅晶圆进行飞秒激光隐形切割时,裂片良率可达85%,较传统纳秒激光工艺提升20%,且切割边缘粗糙度(Ra)从10μm降至3μm以下,满足IGBT模块对低寄生参数的设计要求。目前该设备已在国内多家碳化硅晶圆厂实现量产验证,设备成本较进口同类机型大大降低,成为本土企业突破技术壁垒的代表性成果。
在"双碳"目标的战略指引下,该技术的持续创新将催生更多跨学科融合的加工工艺,推动半导体制造进入"光子制造"的崭新时代。
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